鐳測(cè)科技推出的LS600單頻激光干涉儀采用單頻測(cè)量技術(shù)，技術(shù)指標(biāo)達(dá)到或優(yōu)于國外產(chǎn)品同等水平。通過與不同的光學(xué)組件結(jié)合，可實(shí)現(xiàn)對(duì)線性、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度等幾何量的檢測(cè)，是高精度線性位移測(cè)量、數(shù)控機(jī)床校準(zhǔn)、三坐標(biāo)機(jī)校準(zhǔn)、光學(xué)平臺(tái)校準(zhǔn)的高效率量測(cè)工具。 系統(tǒng)組成…[詳情]

1、直線度測(cè)量原理 雙頻激光測(cè)頭輸出光經(jīng)過直線度干涉鏡，按偏振態(tài)被分成兩束，以一定角度發(fā)散后入射到直線度反射鏡。光束從直線度反射鏡返回，沿新光路回到直線度干涉鏡后，合成一束回到光線接收端，進(jìn)行干涉測(cè)量。通過檢測(cè)光路與干涉鏡和反射鏡之間的橫向位移，就可以得到導(dǎo)軌相對(duì)于激…[詳情]

1、垂直度測(cè)量原理 垂直度測(cè)量的主要采用同一個(gè)測(cè)量基準(zhǔn)軸對(duì)兩個(gè)標(biāo)稱正交坐標(biāo)中的每一個(gè)軸測(cè)量直線度。對(duì)兩個(gè)直線度測(cè)量值進(jìn)行比較，算出兩個(gè)軸之間的垂直度。共同的參考基準(zhǔn)是直線度反射鏡的光學(xué)基準(zhǔn)軸。需要注意的是，兩次測(cè)量直線度之間既不移動(dòng)也不調(diào)整。兩次直線度測(cè)量過程中至少一…[詳情]

1、平行度測(cè)量原理 平行度測(cè)量由兩組直線度測(cè)量組成，兩次測(cè)量都以直線度反射鏡的光學(xué)軸為參考基準(zhǔn)。需要說明的是，要得到兩軸的平行度，要在兩個(gè)正交平面內(nèi)沿每個(gè)要被比較的軸測(cè)量直線度。因此，平行度或平行線測(cè)量實(shí)際是四次直線度測(cè)量，每次的步驟和方法同測(cè)量直線度一樣，如下圖所示…[詳情]

1、回轉(zhuǎn)軸測(cè)量原理利用鐳測(cè)激光干涉儀的角度測(cè)量附件，結(jié)合高精密轉(zhuǎn)臺(tái)，便可以對(duì)回轉(zhuǎn)軸進(jìn)行校準(zhǔn)。轉(zhuǎn)臺(tái)小巧輕便，單手可握住并可以多種方式安裝到機(jī)床上；支持內(nèi)置電池或線纜供電，藍(lán)牙傳輸數(shù)據(jù)；內(nèi)置準(zhǔn)直光靶，提高對(duì)光效率；任意角度、任意間隔自動(dòng)測(cè)量。 2、測(cè)量步驟和數(shù)據(jù)處理[詳情]

激光干涉儀，以激光波長為已知長度，利用邁克耳遜干涉系統(tǒng)測(cè)量位移的通用長度測(cè)量。激光具有高強(qiáng)度、高度方向性、空間同調(diào)性、窄帶寬和高度單色性等優(yōu)點(diǎn)。目前常用來測(cè)量長度的干涉儀，主要是以邁克爾遜干涉儀為主，并以穩(wěn)頻氦氖激光為光源，構(gòu)成一個(gè)具有干涉作用的測(cè)量系統(tǒng)。激光干…[詳情]

Information in English:LH1000 Dual-frequency Interferometer.pdfNonlinear error analysis and experimental measurement of Birefringence-Zeeman dual-frequency laser interferometer.pdf[詳情]

滿足計(jì)量檢測(cè)用戶更穩(wěn)定、更高精度、更便利的使用要求； 以光刻機(jī)用激光干涉測(cè)量系統(tǒng)為基礎(chǔ)， 在保留高穩(wěn)定性、高精度、高采樣速率卓越性能的同時(shí)， 將光源和測(cè)量信號(hào)接收處理單元集成在主機(jī)里， 一體化設(shè)計(jì)為用戶提供更加方便、易用、友好的使用體驗(yàn)；[詳情]